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官网正版 SiC GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 菅沼 克昭 器件设计与制造 芯片 工艺集成电路 低导通电阻 机械工业出版社

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品牌机械工业出版社

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商品ID

商品分类电子电路

商品类目书籍/杂志/报纸

商品属性与评价

器件设计与制造 芯片封装与测试

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图文描述

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