官网正版 SiC GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 菅沼 克昭 器件设计与制造 芯片 工艺集成电路 低导通电阻 机械工业出版社
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商品分类电子电路
商品类目书籍/杂志/报纸
商品属性与评价
器件设计与制造 芯片封装与测试
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图文描述
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